| 一种水平全限制相变量子点相变机理的检测方法 | |
| 付英春; 王晓峰; 季安; 杨富华 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2013-05-15 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 微电子学 |
| 申请日期 | 2013-01-31 |
| 申请号 | CN201310038944.3 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25889 |
| 专题 | 半导体集成技术工程研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 付英春,王晓峰,季安,等. 一种水平全限制相变量子点相变机理的检测方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 一种水平全限制相变量子点相变机理的检测方（1522KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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