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低阻p-GaN欧姆接触电极制备方法
林孟喆; 曹青; 颜庭静; 陈良惠
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种低阻p-GaN欧姆接触电极制备方法,该方法包括:取一衬底,在衬底上生长一器件外延层;对器件外延层进行表面清洗;采用腐蚀剂将器件外延层表面的氧化物去除;光刻,将光刻板上的图形转移到器件外延层上;在器件外延层的表面生长透明电极层;剥离、退火,使透明电极层发生反应,在透明电极层的表面形成高阻层;将发生反应的透明电极层表面的高阻层去除;在透明电极层的表面依次生长连接层和电极加厚层。
部门归属纳米光电子实验室
专利号CN200910080069.9
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910080069.9
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22455
专题纳米光电子实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
林孟喆,曹青,颜庭静,等. 低阻p-GaN欧姆接触电极制备方法. CN200910080069.9.
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