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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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Fu, MQ
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Yu, XZ
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Wang, XL
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Zhu, LJ
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Nie, SH
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Wang, SL
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Chen, Q
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Zhao, JH
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提交时间:2015/04/02
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Chen, G
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Liang, B
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Liu, X
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Liu, Z
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Yu, G
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Xie, XM
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Luo, T
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Shen, GZ
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Fan, ZY
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提交时间:2015/05/11
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作者:
Chen, G
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Liang, B
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Liu, Z
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Yu, G
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Xie, XM
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Shen, GZ
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提交时间:2015/03/19
适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片
专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-01-13, 2010-08-12
发明人:
杨晋玲
;
周美强
;
周 威
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唐龙娟
;
朱银芳
;
杨富华
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提交时间:2010/08/12
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期刊论文
作者:
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提交时间:2010/11/23
适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片
专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN200920106986.5, 公开日期: 2011-08-31
发明人:
杨晋玲
;
周美强
;
周 威
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唐龙娟
;
朱银芳
;
杨富华
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提交时间:2011/08/31
微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置及方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910078562.7, 公开日期: 2011-08-31
发明人:
杨晋玲
;
周威
;
周美强
;
朱银芳
;
杨富华
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提交时间:2011/08/31