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Observation of defects in GaN epilayers 会议论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997, 160, TEMPLIN, GERMANY, SEP 07-10, 1997
作者:  Kang JY;  Liu XL;  Ogawa T;  Kang JY Gakushuin Univ Dept Phys Tokyo 171 Japan.
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Scattering  Sapphire  Growth  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Kang JY;  Liu XL;  Ogawa T;  Kang JY,Gakushuin Univ,Dept Phys,Tokyo 171,Japan.
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