SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
双色、微区反射式瞬态光谱测量系统
闫腾飞; 牛秉慧; 高海霞; 李杭; 闫炜; 历巧巧; 张新惠
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-28
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体物理
申请日期2015-04-29
申请号CN201510212354.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27551
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
闫腾飞,牛秉慧,高海霞,等. 双色、微区反射式瞬态光谱测量系统.
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双色、微区反射式瞬态光谱测量系统.pdf(316KB) 限制开放使用许可请求全文
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