SEMI OpenIR  > 高速电路与神经网络实验室
近红外定性鉴别特征提取方法
李卫军; 李浩光; 覃鸿; 董肖莉; 张丽萍
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-22
授权国家中国
专利类型发明
学科领域人工智能
申请日期2015-07-22
申请号CN201510433848.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27493
专题高速电路与神经网络实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
李卫军,李浩光,覃鸿,等. 近红外定性鉴别特征提取方法.
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