SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
具有温度测量功能的光纤光栅道岔密贴监测装置
张文涛; 许红彬; 杜彦良; 李芳
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-12
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2015-09-22
申请号CN201510609489.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27427
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
张文涛,许红彬,杜彦良,等. 具有温度测量功能的光纤光栅道岔密贴监测装置.
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