SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
一种绝缘体上的硅基光栅耦合器及其制作方法
朱宇; 李智勇; 俞育德; 余金中
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种绝缘体上的硅基光栅耦合器,所述耦合器采用绝缘体上的硅材料,包括:一硅衬底;一限制层,该限制层制作在硅衬底上;一顶硅层,该顶硅层制作在限制层上,在该顶硅层的表面制作有光栅,在该顶硅层一侧靠近光栅处为锥形波导,该锥形波导大于80μm,与锥形波导连接处为亚微米波导;一光纤,该光纤的一端靠近顶硅层上的光栅。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN201010121742.1
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010121742.1
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21957
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
朱宇,李智勇,俞育德,等. 一种绝缘体上的硅基光栅耦合器及其制作方法. CN201010121742.1.
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